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德國菲希爾X射線熒光測厚儀信息
點擊次數(shù)：89 更新時間：2025-09-09
 
技術(shù)原理
能量色散 X 射線熒光技術(shù)（EDXRF）
XDL 系列測厚儀利用 X 射線激發(fā)樣品，使樣品中的元素發(fā)射出特征 X 射線熒光。不同元素的特征 X 射線熒光具有特定的能量，通過探測器檢測這些熒光的能量和強度，并進行能譜分析，即可確定樣品中所含元素的種類和含量。對于鍍層厚度的測量，儀器根據(jù)特征 X 射線熒光強度與鍍層厚度的關(guān)系，經(jīng)過精確的算法計算得出鍍層厚度。
基本參數(shù)法
該系列儀器采用菲希爾基本參數(shù)法，這一先進技術(shù)使得儀器在沒有標準片的情況下，也能對鍍層系統(tǒng)、固體和液體樣品進行準確的測量和分析。它基于物質(zhì)對 X 射線的吸收和熒光產(chǎn)生的基本物理原理，通過輸入樣品的基本參數(shù)（如元素組成、密度等），利用復(fù)雜的算法計算出測量結(jié)果，大大提高了檢測的靈活性，降低了對標準樣品的依賴，同時也減少了因標準樣品不準確或缺失帶來的測量誤差。
 
聯(lián)系方式

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