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API利用激光波長作為長度基準(zhǔn)，實(shí)現(xiàn)納米級甚至亞納米級的位移測量精度。該設(shè)備廣泛應(yīng)用于機(jī)床校準(zhǔn)、坐標(biāo)測量機(jī)（CMM）驗(yàn)證、半導(dǎo)體制造設(shè)備檢測以及科研實(shí)驗(yàn)室等領(lǐng)域。

API激光干涉儀的核心優(yōu)勢在于其多軸同步測量能力。例如，其XD Laser系列可同時測量多達(dá)六自由度（6DoF）——包括三個線性軸（X、Y、Z）和三個角度軸（俯仰、偏擺、滾動），大幅提升了檢測效率與數(shù)據(jù)完整性。此外，API系統(tǒng)支持實(shí)時動態(tài)補(bǔ)償，能自動修正因溫度、氣壓和濕度變化引起的空氣折射率誤差，確保在工業(yè)現(xiàn)場復(fù)雜環(huán)境下仍保持高精度。

操作方面，API激光干涉儀配備用戶友好的軟件界面，兼容Windows系統(tǒng)，并支持與主流數(shù)控系統(tǒng)集成。其模塊化設(shè)計(jì)便于攜帶和現(xiàn)場部署，適用于車間級快速校準(zhǔn)任務(wù)。