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菲希爾X射線測厚儀XDL210測量原理：運(yùn)用 X 射線熒光光譜法，通過測量樣品受 X 射線激發(fā)后產(chǎn)生的熒光 X 射線，實(shí)現(xiàn)對鍍層厚度的精準(zhǔn)測量和成分分析，采用無損檢測方式，可保障樣品完整性。

應(yīng)用領(lǐng)域：適用于電鍍量產(chǎn)零件、裝飾性鍍鉻等薄涂層、電子和半導(dǎo)體行業(yè)功能涂層的測量，也可對印刷電路板進(jìn)行自動(dòng)測量，還能用于電鍍?nèi)芤悍治觯谫|(zhì)量保證、進(jìn)料檢驗(yàn)和過程控制中發(fā)揮重要作用。

技術(shù)參數(shù)

X 射線源：帶鈹窗口的鎢管，有 30kV、40kV、50kV 三檔高壓可調(diào)整。

準(zhǔn)直器：標(biāo)配孔徑為 ?0.3mm 的圓形準(zhǔn)直器，可選圓形 ?0.1mm、?0.2mm 及長方形 0.3mmx0.05mm 的準(zhǔn)直器。

測量點(diǎn)：取決于測量距離及準(zhǔn)直器大小，最小測量點(diǎn)大小約 ?0.16mm。

測量距離：使用測量距離補(bǔ)償法（DCM）功能時(shí)，未校準(zhǔn)范圍為 0-80mm，已校準(zhǔn)范圍為 0-20mm。

X 射線探測器：采用比例接收器，可實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率，確保信號(hào)穩(wěn)定接收，從而進(jìn)行高精度測量。

樣品臺(tái)：為固定式平面樣品平臺(tái)，可用樣品放置區(qū)域?yàn)?463x500mm，樣品重量 20kg，高度根據(jù)不同情況為 155/90/25mm。

攝像頭：高分辨率 CCD 彩色攝像頭，放大倍數(shù) 20x-180x，有手動(dòng)聚焦、十字線刻度和可調(diào)節(jié)亮度的照明，激光點(diǎn)用于準(zhǔn)確定位樣品。